El documento presenta información sobre diferentes técnicas de microscopía avanzada como la microscopía de superresolución, microscopía de sonda de barrido, microscopía de fuerza atómica y microscopía óptica de barrido de campo cercano. Explica brevemente el funcionamiento de cada técnica y cómo han permitido sortear el límite de difracción, avanzando el campo de la nanocaracterización. También incluye información sobre empresas e instituciones asociadas a estas técnicas.
1. Fondo tomado desde: https://www.freepik.es/vector-premium/fondo-abstracto-mecanismo-rueda-engranaje_2827899.htm
Alpha300 S
Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM)
Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM)
Técnicas de
Caracterización de
Nanomateriales
Presentado a
Presentado
por
Imagen tomada de: Brochure de Extrel
Presentado a
Catalina Gómez
8. Razón de extensión
La difracción establece
un límite físico para la resolución
teóricamente alcanzable; sin embargo,
es posible sortear esta barrera.
Eso es lo que los microscopistas
han estado haciendo en los últimos años
y de muchas maneras a la vez,
comenzando la era de la super-resolución
en microscopía óptica.
Evitan los problemas asociados con
la propagación de la luz
al acercarse mucho a la muestra.
Las técnicas de campo cercano
Las estrategias incluyen
- aumentar la capacidad de recolección de luz,
- agudizar
- la función de dispersión puntual o
- la localización de alta precisión
de moléculas fluorescentes individuales.
En el campo lejano
Los enfoques de alta resolución vienen en varios sabores y cada uno tiene ventajas o desventajas específicas.
10. Microscopía de sonda de barrido
Microscopía de sonda de barrido
Scanning probe microscopy (SPM)
Scanning probe microscopy (SPM)
AFM
Atomic Force
Microscopy
STM
Scanning
Tunneling
Microscopy
SFM
Shear force
Microscopy
Imagen tomada de: https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5979470/
12. Atomic Force Microscopy (AFM)
2018
2011
2012
2019
El Premio Kavli de Nanociencia 2016 fue otorgado a Gerd Binnig (a la izquierda de la tercera
foto), Christoph Gerber (a la izquierda de la segunda foto) y Calvin Quate (centro de la primera
foto), "por la invención y realización de la microscopía de fuerza atómica, un gran avance en
tecnología de medición y nanoescultura que continúa teniendo un impacto transformador en la
nanociencia y la tecnología.
http://kavliprize.org/prizes-and-laureates/prizes/2016-kavli-prize-nanoscience
https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.56.930
Ceremonia: https://www.youtube.com/watch?v=UefKwtf6b6c&t=1s
17. Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
2021
18. Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
2012
1993
2003
Captura tomada de: https://www.nanonics.co.il/nsom-navigation/a-brief-history-and-simple-description-of-nsom-snom-technology
19. Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Tomada de Olympus:
https://www.olympus-lifescience.com/en/microscope-resource/primer/techniqu
es/nearfield/nearfieldprobes/
Tomada de:
https://www.researchgate.net/figure/Schematic-of-collection-mode-operation-3D-SNOM-syste
m-a-The-piezo-scanner-is-capable_fig1_319995282
Tomada de:
https://www.researchgate.net/figure/Schematic-lay-out-of-a-near-field-scanning-optical-mi
croscope-The-NSOM-probe-is-a_fig2_11616312
“La luz pasa a través de una abertura de diámetro inferior a la longitud de
onda e ilumina una muestra que se coloca dentro de su campo cercano, a
una distancia mucho menor que la longitud de onda de la luz. La
resolución alcanzada es mucho mejor que la que pueden alcanzar los
microscopios ópticos convencionales”. Nanonics
20. Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Captura tomada de: https://link.springer.com/article/10.1007/s00216-009-3040-1#citeas
Tomada de:
https://www.olympus-lifescience.c
om/es/microscope-resource/prime
r/java/nearfield/probeaperture/
21. Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM)
Captura tomada de: https://www.nanonics.co.il/solutions/nsom-snom-afm
22. Google patents
Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM):
Near field Scanning Optical Microscopy (NSOM):
Patentes
Patentes
27. Anexo de empresa:
Galería de imágenes
Captura tomada de: https://www.nanonics.co.il/literature/galleries/image-gallery
28. Conclusiones
La versatilidad del AFM combinado, para la nanoscopía, en su forma de NSOM, demuestra
la variada utilidad que en este caso permite obtener imágenes 2D y topográficas (3D),
lo cual a la hora de caracterizar permite ser sutil, al obtener detalles de muestras, sean
biológicas, electrónicas o del tipo que sean.
El desarrollo de la microscopía de superresolución implicando hitos desde el siglo XIX,
Hasta nuestros días, significó un avance importante para la microscopía, permitiendo
Abrir el campo a la Nanoscopía en usos variados, las diferentes formas de sortear el
Límite de difracción de Abbe, se materializaron a través de técnicas de campo cercano
Y técnicas de campo lejano